Titelaufnahme

Titel
Degradation study of SOC stacks with impedance spectroscopy / Yulin Yan
VerfasserYan, Yulin
ErschienenJülich : Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag, 2018 ; copyright 2018
Ausgabe
Elektronische Ressource
Umfang1 Online-Ressource (134 Seiten) : Illustrationen, Diagramme
HochschulschriftRWTH Aachen University, Dissertation, 2018
Anmerkung
Englische und deutsche Zusammenfassung
SerieSchriften des Forschungszentrums Jülich ; Band/volume 441
URLVolltext
ISBN978-3-95806-367-9
URNurn:nbn:de:hbz:5:2-184643 
Zugänglichkeit
 Das Dokument ist öffentlich zugänglich im Rahmen des deutschen Urheberrechts.
Volltexte
Degradation study of SOC stacks with impedance spectroscopy [17.13 mb]
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