Titelaufnahme

• Titel
  Betrachtung der Kristallinitätsentwicklung in mikrokristallinem Dünnschicht-Silizium mit in-situ Raman-Spektroskopie / Thomas Fink
• Verfasser
  Fink, Thomas
• Erschienen
  Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag, 2018, copyright 2018
• Ausgabe
  Elektronische Ressource
• Umfang
  1 Online-Ressource (XI, 166 Seiten) : Illustrationen, Diagramme
• Hochschulschrift
  RWTH Aachen University, Dissertation, 2017
• Anmerkung
  Englische und deutsche Zusammenfassung
• Serie
  Schriften des Forschungszentrums Jülich ; Band 405
• URL
  Volltext
• ISBN
  978-3-95806-289-4
• URN
  urn:nbn:de:hbz:5:2-153759