1 Treffer für Autor / Beteiligte = "Yin, Hao"
zu den Filteroptionen1 Treffer für Autor / Beteiligte = "Yin, Hao"
Das Dokument ist öffentlich zugänglich im Rahmen des deutschen Urheberrechts.Investigation of 2D materials using low energy electron microscopy (LEEM)
Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag, [2025], Copyright: 2025[Online Ressource]