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Titelaufnahme
Titel
Betrachtung der Kristallinitätsentwicklung in mikrokristallinem Dünnschicht-Silizium mit in-situ Raman-Spektroskopie / Thomas Fink
Verfasser
Fink, Thomas
Erschienen
Jülich
:
Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag
,
[2018], © 2018
Umfang
1 Online-Ressource (XI, 166 Seiten) Illustrationen, Diagramme
Hochschulschrift
RWTH Aachen University, Dissertation, 2017
Anmerkung
Deutsche und englische Zusammenfassung
Serie
Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Energie & Umwelt/Energy & environment ; 405
Schlagwörter
Aachen
URL
Volltext
;
Volltext
;
Volltext
ISBN
978-3-95806-289-4
URN
urn:nbn:de:hbz:5:2-153759
DOI
10.18154/RWTH-2018-223260
Zugänglichkeit
Das Dokument ist öffentlich zugänglich im Rahmen des deutschen Urheberrechts.
Links
Nachweis
Universitäts- und Landesbibliothek Bonn
Dateien
Betrachtung der Kristallinitätsentwicklung in mikrokristallinem Dünnschicht-Silizium mit in-situ Raman-Spektroskopie
[
pdf
13.02 mb
]
Nutzungshinweis
Creative Commons Namensnennung 4.0 International Lizenz