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Titelaufnahme
Titel
DC and RF characterization of bulk CMOS and FD-SOI devices at cryogenic temperatures with respect to quantum computing applications / Anton Artanov
Verfasser
Artanov, Anton
Körperschaft
Universität Duisburg-Essen
Erschienen
Jülich
:
Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag
,
[2023]
Umfang
1 Online-Ressource (80, liii Seiten) Illustrationen, Diagramme
Hochschulschrift
Universität Duisburg-Essen., Dissertation, 2022
Serie
Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Information = Information ; 93
Institution
Universität Duisburg-Essen
Schlagwörter
Duisburg
/
Jülich
/
Essen
URL
Volltext
URN
urn:nbn:de:hbz:5:2-1240532
Zugänglichkeit
Das Dokument ist öffentlich zugänglich im Rahmen des deutschen Urheberrechts.
Links
Nachweis
Universitäts- und Landesbibliothek Bonn
Dateien
DC and RF characterization of bulk CMOS and FD-SOI devices at cryogenic temperat [
pdf
30,73 mb
]
Nutzungshinweis
Creative Commons Namensnennung 4.0 International Lizenz