Titelaufnahme

Titel
Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films / Felix Lüpke
VerfasserLüpke, Felix In der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen
ErschienenJülich : Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag, 2018 ; copyright: 2018
Ausgabe
Elektronische Ressource
Umfang1 Online-Ressource (iv, 144 Seiten) : Illustrationen, Diagramme
HochschulschriftRWTH Aachen University, Dissertation, 2017
SerieSchriften des Forschungszentrums Jülich ; Band/volume 185
ISBN978-3-95806-361-7
URNurn:nbn:de:hbz:5:2-172939 Persistent Identifier (URN)
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Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films [29.65 mb]
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