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Titelaufnahme
Titel
Investigation of ternary nitride semiconductor alloys by scanning tunneling microscopy / Verena Portz
VerfasserPortz, Verena
ErschienenJülich : Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, © 2017
Ausgabe
Elektronische Ressource
Umfang
1 Online-Ressource (140 Seiten) : Illustrationen, Diagramme
HochschulschriftRWTH Aachen University, Dissertation, 2017
SerieSchriften des Forschungszentrums Jülich ; Band 48
URNurn:nbn:de:hbz:5:2-134317 
DOI10.18154/RWTH-2017-04262 
Zugriffsbeschränkung
 Das Dokument ist frei verfügbar.
Volltexte
Information_48.pdf [49.33 mb]Investigation of ternary nitride semiconductor alloys by scanning tunneling microscopy
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